분광방사휘도계, SMU, Jig의 구성으로 광원 소자의 휘도, 색도, 전압, 전류, 각종 효율을 측정 가능한 System SW를 이용하여
전류 밀도, 전류 효율, 전력 효율, 양자 효율을 제공합니다. JIG는 원하는 기능(회전, 온도 제어)을 추가 할 수 있습니다.
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제품소개
JVL Measurement System
JVL 시스템
01
제품개요
02
주요용도
Black Box : 정밀한 측정을 위한 외부광 차단, Sample Holder : Sample의 편리한 거치 및 안정적인 전력 공급, Dovetail 측정 위치 변경 (Default 50*50 mm), Sample Tilt / Temperature Control : Sample holder 좌/우 기울기, Sample 온도 제어 기능 추가 가능
03
제품특징
제품 외관
설명: Leh Type
설명: Table Type
CS-2000(A)
QE 연산에 필요한 Spectral Data 출력 가능 장비
CS-2000A High Speed Custom 적용 시 측정 시간 대폭 감소
Source Meter
Sample 전력 공급 및 Voltage,Current 측정 장비
보유 중인 장비 이용 가능, SW 연동 가능 여부 확인 후 수정
(Default Keithley K-2400)
Software GUI
*Main UI – JVL Measurement
*Data UI – JVL Measurement Data Monitoring
