제품소개

본 측정기는 컬러과 광택의 동시 측정이 가능한 "Two in One"의 분광측색계입니다. 색과 광택을 동시에 측정함으로써 고도의 품질 관리나 조색 계산에 활용하여 작업 효율화를 실현합니다.

본 측정기는 기기간 오차가 최소화되어 여러 대를 이용하거나 거점이 여러 곳인 서플라이 체인의 업무 효율화를 실현합니다. 색채 값의 기기 간 오차는 ΔE*ab 0.12 이내(BCRA 시리즈 Ⅱ 타일 12색 평균, LAV/SCI)로 기존 기기 CM-3600A 시리즈보다 20% 감소했으며 광택 값의 기기 간 오차도 광택계 전용기에 비해 동등 이상의 성능을 실현했습니다. 측정 값 차이를 극히 최소화함으로써 기존 기기에서 사용한 표준 데이터를 계승할 수 있어 전환 작업을 저감합니다.

· 상태 패널로 측정 상태 및 설정한 조건을 표시하여 오퍼레이터의 조작 실수 경감

· 본체상에 측정 버튼을 설치하여 연속 측정 시 작업성 향상

· 전자 뷰파인더*에 의해 측정물 시인성이 향상되어 측정 위치 맞추기가 용이 * SpectraMagic NX2 사용 시

· 시료에 따라 최적의 측정경을 선택할 수 있도록 4종류(LAV: Ø25.4mm, LMAV: Ø16mm, MAV: Ø8mm, SAV: Ø4mm)의 다양한 타겟 마스크 장비

· 투과 시료실을 크게 개폐함으로써 큰 사이즈의 측정물에도 대응할 수 있으므로 시트 형태의 시료도 자르지 않고 사이드에서 세팅 가능

UV광을 포함하는 광원과 UV광을 차단한 광원이 순차적으로 발광하므로, UV광을 포함하는 광원하에서의 시료 데이터와 UV광을 포함하지 않는 광원하(400nm, 또는 420nm UV 차단 필터)에서의 시료 데이터를 얻을 수 있습니다. 또한 임의 광원하에서의 데이터도 간단하게 얻을 수 있습니다(UV 조정). 임의 광원하에서의 분광반사율 데이터가 기존의 표준 형광 시료를 측정하는 것 만으로 UV 교정이 완료됩니다. UV 교정 후에는 그 광원하에서 시료 데이터를 얻을 수 있으며 UV 차단 필터의 이동에 따른 시행착오가 발생하는 UV 조정 작업은 불필요하므로 시간 단축을 실현합니다.

자동 파장 보정 기능 'WAA(Wavelength Analysis & Adjustment)'가 포함됩니다. 측정기에 대한 충격이나 급격한 온도 변화 등으로 인한 만일의 변동에 대해, 측정 값의 변동을 억제하고 시스템 문제 발생을 최소화합니다. 보정 데이터는 백색 교정 시에 자동으로 취득. 이 기능을 통해 측정 데이터에 대한 안심과 높은 신뢰성을 실현합니다.